HAST高压加速老化试验箱主要测试环境包含THB(主要的测试条件是温度为85℃/相对湿度为85%/规定电压）、与PCT试验箱的区别是，PCT试验（通常指100%相对湿度的饱和蒸汽测试）、HAST（通常指相对湿度为85%的非饱和蒸汽测试）。

HAST试验箱是利用高温(通常为130℃)、高相对湿度(约85%)、高大气压力的条件来加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的密封封装的试验设备，用于评估产品及材料在高温，高湿，高气压条件下对湿度的抵抗能力，加速其失效过程。

HAST试验箱，是通过对样品施加高温高湿以及高压的方式，实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验，用于评估产品密封性、吸湿性及老化性能。

HAST试验箱，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。

相对于传统的高温高湿测试，如85°C/85％RH，HAST试验箱增加了容器内的压力，使得可以实现超过100℃条件下的温湿度控制，能够加速温湿度的老化效果（如迁移，腐蚀，绝缘劣化，材料老化等），大大缩短可靠性评估的测试周期，节约时间成本。HAST高加速老化测试已成为某些行业的标准，特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等产品中，作为标准高温高湿测试（如85C/85%RH-1000小时）的快速有效替代方案。

HAST试验箱产品介绍

                             ▲HAST试验仪-众志HAST试验箱

广东众志检测仪器自主研发设计生产的的高压加速老化试验箱(HAST)适用于半导体芯片行业以及航空、航天、兵器、船舶、核工业、科研院校等领域。通过对电子部品、元器件、集成电路以及材料、工艺等通过加速进行高温、高湿、高压循环及恒定试验测试来确认其是否因耐久性(寿命)或环境变化而导致功能失效。

满足标准

●JESD22-A102E-2015 加速水汽抵抗性--无偏置高压蒸煮（PCT）
●JESD22-A110E.01-2021 高加速温湿度应力试验（HAST）（有偏置电压未饱和高压蒸汽）
●JESD22-A118B.01-2021 加速水汽抵抗性--无偏压 HAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
●IEC60068-2-66:1994（GB/T 2423.40-2013）环境试验 第2 部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热
●IEC60749-4:2017（GB/T 4937.4-2012）半导体器件 机械和气候试验方法 第4 部分：强加速稳态湿热试验(HAST)